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Coordinateur :
Sébastien DUPERRON,
sebastien.duperron@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 26
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Gestionnaire :
Haietz ALOUI, responsable administratif
haietz.aloui@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 95 |
Microscopie à balayage MEB - Bio :
Géraldine TOUTIRAIS , responsable technique et scientifique
geraldine.toutirais@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 36 67 (bureau)
+33 (0)1 71 21 47 44 (MEB)
Microscopie à balayage MEB - Mineralo :
Sylvain PONT, responsable technique et scientifique
sylvain.pont@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 81 08 (bureau) 81 04 (MEB)
Microscopie à balayage MEB FEG - Concarneau :
Cédric HUBAS, responsable scientifique
cedric.hubas@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 99 33
Stéphane FORMOSA, responsable technique
stephane.formosa@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 42 87
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Microscopie en transmission :
Bérénice PIQUET , responsable technique et scientifique
berenice.piquet@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 91 (bureau) 31 85 (MET) |
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Plateau Technique de Microscopie Électronique
et de Microanalyses du MNHN
Présentation du service
Le plateau technique de microscopie électronique et de microanalyse est l’une des composantes de la Plateforme Analytique du Muséum (PAM) du Muséum National d’Histoire Naturelle (MNHN).
Le plateau technique de microscopie électronique (PtME) est un service commun à l’ensemble des scientifiques du MNHN mais également ouvert aux utilisateurs extérieurs publics ou privés. Ce service est particulièrement dédié aux échantillons issus de l’environnement allant du minéral au vivant. Le service permet l'acquisition d'images en Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et en Transmission (MET), de même que des facilités pour la préparation des échantillons.
Liste du matériel
MEB Hitachi SU3500, grossissements en routine de 10 000 à 50 000, et sous certaines conditions jusqu’à 150 000. Observations à haute résolution d'échantillons non déshydratés, non métallisés ;
Imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons X EDS (Energy Dispersive Spectrum XRay), avec cartographies spectrales élément par élément ; Détecteur STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) (année d’achat 2012).
Observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et Imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons EDX. Observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés (Pression variable)
MEB TESCAN VEGAII LSU résolution de 30nm à 30kV, pression variable sous azote de 5 à 500 Pa permettant l'observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés. Équipé d'un spectromètre de rayons X en dispersion d'énergie pour une analyse élémentaire du bore aux actinides (résolution de 133eV). Cartographie chimique hyperspectrale, module d'assemblage automatique d'images SE/BSE/cartes X (année d'achat 2007).
Observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons EDX. Module d’acquisition de mosaïques d’images électroniques et/ou chimiques. Observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés (Pression variable)
MEB Zeiss Sigma300, (technologie FEG) avec fonctions SE1 (secondary emission InLens), SE2 (secondary emission) & STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy),
MEB Jeol 840A, grossissement en routine de 30 000. Observations d'échantillons déshydratés et métallisés (année d’achat 1986).
Observation topographique
MET Hitachi H7700, avec fonctions STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) ; Tomography ; EDS (Energy Dispersive Spectrum XRay) (mise en service fin 2014).
MET Hitachi H7100, avec système caméra CCD HAMAMATSU (année d’achat 1998)
Matériels de préparation à Paris: point critique (Leica EM CPD 300, 2020), métalliseur-évaporateur (LEICA ACE 600, 2017) , ultra-microtomes (trois de marque Reichert-Yung et un de marque PTXL RMC boeckeler,2019), microscopes photoniques, …
Matériels de préparation à Concarneau: point critique (Quorum EMS 850), métalliseur-évaporateur (Cressington 108 auto)
Organisation
Les étapes de préparation des échantillons et d'acquisition d’images sont accompagnées d'encadrement technique et/ou scientifique par le personnel de la plateforme.
Responsables techniques et scientifques de la Microscopie à Balayage
MEB - Bio
Géraldine TOUTIRAIS, Ingénieure d'études MNHN, titulaire
geraldine.toutirais@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 36 67 (bureau) +33 (0)1 71 21 47 44 (MEB)
MEB - Minéralo
Sylvain PONT, Ingénieur d'études MNHN, titulaire
sylvain.pont@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 81 08 (bureau) 81 04 (MEB)
MEB FEG - Concarneau
Dr Cédric HUBAS, responsable scientifique, titulaire
cedric.hubas@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 99 33
Stéphane FORMOSA , responsable technique, titulaire
stephane.formosa@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 42 87
Responsable technique et scientifque de la Microscopie en Transmission
MET
Dr Bérénice PIQUET, Ingénieure d'études MNHN, CDD
berenice.piquet@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 91 (bureau) 31 85 (MET)
Tarifs
TARIFS POUR LES CHERCHEURS MNHN ET EQUIPES ASSOCIEES, LES ETABLISSEMENTS PUBLICS ET PRIVES à COMPTER DE 2011
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MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE (MEB) |
TARIFS H.T. |
Préparation (incluant métallisation et/ou déshydratation
au point critique)
Forfait 10 séances |
35,00 €
250,00 € |
| Observation des échantillons incluant la préparation
Séance d’une demi-journée, autonome ou assisté
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70,00 €
120,00 €
160,00 €
260,00 €
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MICROSCOPE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) |
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Coupe sèche
- Chercheurs MNHN et équipes associées
- Etablissements publics :
- Privés
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Préparation, coupe, coloration de l'échantillon et ultra-microtome
- Chercheurs MNHN et équipes associées
- Etablissements publics :
- Privés
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Observation des échantillons
Séance d’une demi-journée, autonome ou assisté
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70,00 €
100,00 €
130,00 €
230,00 €
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| Forfaits pour chercheurs MNHN et équipes associées |
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- Forfait de 10 séances, autonome ou assisté
- Forfait de 20 séances
- Forfait de 30 séances
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500,00 €
800,00 €
1050,00 €
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- Une séance = 1/2 journée = 3 à 4 heures
- Ces tarifs s'entendent HT pour les crédits muséum. Pour les crédits externes des équipes associées, il sera appliqué une TVA de 20% (depuis le 1er janvier 2014)
- Conditions d'application du tarif dégressif : possibilité de combiner les tarifs MEB et MET (en précisant le nombre de séances MEB et MET), forfait payable d'avance, consommation dans les 18 mois.
- Pour la fiche d'inscription s'adresser au secrétariat ou aux responsables de chaque service. |
Localisation, accès et horaire
Trois microscopes sont installés au MNHN, sur le site du Jardin des Plantes, au 45 rue Buffon et au 61 rue Buffon pour la Microscopie Electronique à Balayage et au 12 rue Buffon pour la Microscopie Electronique en Transmission.
Le microscope Electronique à Balayage FEG est quand à lui situé à la station marine de Concarneau.
Lundi au vendredi : 9h-18h
Accès par digicode (pièce MEB 43 rue Buffon), clef et/ou badge
Personnels
MEB - "Bio"
Géraldine TOUTIRAIS, Ingénieure d'études MNHN, titulaire
Responsable du service de Microscopie Electronique à Balayage.
geraldine.toutirais@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 36 67 (bureau) +33 (0)1 71 21 47 44 (MEB)
Cyril WILLIG, Assistant Ingénieur MNHN, titulaire
Assistant la responsable du service de Microscopie Electronique à Balayage.
cwillig@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 36 91
MEB - "Minéralo"
Sylvain PONT, Ingénieur d'études MNHN, titulaire
Responsable technique et scientifique du service de Microscopie Electronique à Balayage.
sylvain.pont@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 81 08 (bureau) 81 04 (MEB)
MEB FEG - Station marine de Concarneau
Dr Cédric HUBAS, Maitre de conférences MNHN, titulaire
Responsable scientifique du service de Microscopie Electronique à Balayage.
cedric.hubas@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 99 33
Stéphane FORMOSA, Technicien INRA, titulaire
Responsable technique du service de Microscopie Electronique à Balayage.
stephane.formosa@mnhn.fr
Tél : +33 (0)2 98 50 42 87
MET
Dr Bérénice PIQUET, Ingénieure d'études MNHN, CDD
Responsable du service de Microscopie en Transmission
berenice.piquet@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 91 (bureau) 31 85 (MET)
Coordinateur
Pr Sébastien DUPERRON, Professeur du MNHN, titulaire 15%
Coordination du plateau technique de microscopie électronique du MNHN
sebastien.duperron@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 26
Gestionnaire
Haietz ALOUI, responsable administratif MNHN, 50%
Secrétariat et gestion administrative
haietz.aloui@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 31 95
Webmaster
Charlotte DUVAL, Technicienne du MNHN, titulaire
Création et mise à jour du site web
cduval@mnhn.fr
Tél : +33 (0)1 40 79 81 37
Actualités
Le Plateau technique de Microscopie Electonique organise une après-midi dédiée à la microscopie électronique le lundi 18 mai 2020 de 14h à 17h à l'amphithéâtre Rouelle (Muséum National d'Histoire Naturelle, Paris).
L'entrée est libre, pour plus d'informations : programme détaillé
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